Didelio tikslumo šaltinio matuoklio taikymas atliekant diodų masinės gamybos bandymą

Diodas yra elektroninis prietaisas, pagamintas iš puslaidininkinių medžiagų (silicio, seleno, germanio ir kt.). Jis turi vienkryptį laidumą, tai yra, kai į diodo anodą įjungiama tiesioginė įtampa, diodas įjungiamas. Kai anodui ir katodui taikoma atvirkštinė įtampa, diodas išjungiamas. Diodai yra plačiai naudojami. Visų pirma, įvairiose elektroninėse grandinėse diodai yra pagrįstai sujungti su komponentais, tokiais kaip rezistoriai, kondensatoriai ir induktoriai, kad sudarytų skirtingų funkcijų grandines, kurios gali atlikti daugybę funkcijų, tokių kaip kintamosios srovės ištaisymas, moduliuotų signalų aptikimas, amplitudės ribojimas ir fiksavimas, ir maitinimo įtampos stabilizavimas. Diodų pėdsakų galima rasti tiek bendrose radijo grandinėse, tiek kituose buitiniuose prietaisuose ar pramoninėse valdymo grandinėse.

Yra didelis skirtumas tarp serijinio diodų gamybos bandymo ir diodų bandymo laboratorinėmis sąlygomis. Pirma, pramoninių bandymų partijos dydis yra didelis, o bandymo prietaisas kiekvieną dieną vidutiniškai patikrina dešimtis tūkstančių diodų. Supakuotų diodų kaina pasaulinėje rinkoje paprastai yra pigesnė, ir tik didelio masto gamyba gali pasiekti didelį našumą, kad gamintojai būtų pelningi. Todėl prietaisas reikalingas nuolatiniam ir greitam testavimui. Antra, bandymo prietaisas turi turėti tam tikrą universalumą, turėti galimybę išbandyti įvairių tipų supakuotus diodus ir turėti galimybę bet kada pakeisti tipą. Trečia, norint užtikrinti tam tikrą bandymo tikslumą, reikia griežtai taikyti įtampą arba srovę pagal bandymo sąlygas. Todėl supakuotų diodų testavimo sistema yra integruota visiškai automatinė sistema, galinti atlikti daugybę užduočių nuo diodų padavimo, išdėstymo, testavimo, šilkografijos iki diodų pakavimo. Viso bandymo metu rankinio įsikišimo nereikia.

Diodų bandymo sistema susideda iš dviejų dalių. Viena dalis yra valdymo mašina (manipuliatorius, armatūra, konvejeris ir kt.), kuri daugiausia valdo visą diodų procesą nuo padavimo iki pakavimo. Kita dalis yra NGI didelio tikslumo skaitmeninis šaltinio matuoklis, kuris naudojamas nustatyti bandymo sąlygas, kad būtų galima patikrinti pagrindinius diodo parametrus, tokius kaip įjungimo įtampa (VF), atvirkštinio gedimo įtampa (VR) ir nuotėkio srovė ( IR), taip pat turi tokias funkcijas kaip klasifikavimo atranka ir išdėstymas.

NGI N2600 serijos didelio tikslumo skaitmeninis šaltinio matuoklis veikia keturiuose kvadrantuose, integruodamas šešias įtampos šaltinio, srovės šaltinio, skaitmeninio multimetro (I/V/R matavimas) ir apkrovos funkcijas. Matavimo diapazonas apima nuo 200V iki 1μV, nuo 1A iki 10pA, nuo 200MΩ iki 10μΩ, o matavimo skiriamoji geba siekia 6.5 ​​skaitmens. Jame yra įmontuotas nuskaitymo režimas, skaitmeninis IO, ribinis testas, sinchroninis trigeris, signalų generatorius, funkcijų skaičiuotuvas ir kitos funkcijos bei nemokama standartinė kompiuterio valdymo programinė įranga, puikiai tinkanti supakuotų diodų serijinės gamybos bandymams.

N2600 serijos didelio tikslumo skaitmeninio šaltinio matuoklio stalas turi 10 skaitmeninių IO prievadų. Skaitmeninis IO signalas gali būti naudojamas prijungti prie manipuliatoriaus, kad būtų galima valdyti manipuliatorių, kad būtų atliktas diodo poliškumo ir laipsnio patikrinimas. Diodai gali būti suskirstyti į gaminio defektų lygius atliekant elektrinio veikimo bandymus, kurie paprastai skirstomi į keturis lygius: AAA, AA, A ir D. Sugedę gaminiai pašalinami rūšiuojant atranką, o gamintojas gali išsiųsti pagal klientų poreikius. Kiekvieno šaltinio matuoklio skaitmeninio IO prievado išvesties signalas rodo tam tikrą informaciją, pvz., „geras prietaisas“, „sugadintas įrenginys“, „sukantis įtaisas“ ir kt. Diodas arba diodų paketas įdedamas į bandymo įrenginį ir prijungiamas. prie šaltinio skaitiklio išvesties. Priklausomai nuo diodų paketo, kai kurie diodai yra jautrūs šviesai. Norint išvengti kenksmingų srovių, paprastai naudojama bandymo aplinkos kamera, kuri gali apsaugoti diodą nuo šviesos. Šaltinio matuoklis suteikia diodui įtampos arba srovės poslinkį ir užbaigia matavimą, palygina matavimo rezultatą su iš anksto nustatyta kraštutine reikšme ir priima sprendimą, kad teigiamas arba ne.

● Sinchroninis kelių šaltinių matuoklių suaktyvinimo bandymo procesas

1. Operatorius siunčia veikimo instrukciją per pagrindinį kompiuterį, paspausdamas mygtuką "Pradėti testą", laukdamas, kol konvejeris ir robotas bei armatūra paduos diodų gamybos partiją.
2.Pagrindinis kompiuteris per LAN siunčia instrukcijas, kaip valdyti N2600 šaltinio matuoklį, kad pradėtų veikti.
3. Šaltinio matuoklis N2600 laukia pradžios testo (SOT) paleidimo signalo iš roboto.
4.Robotas siunčia SOT paleidimo signalą į šaltinio matuoklį N2600, nurodydamas, kad visi diodai yra paruošti sinchroniniam testavimui.
5. Kelių šaltinių skaitikliai N2600 yra sinchroniškai įjungiami, kad būtų atlikti poliškumo testai. Jei diodo poliškumo testas yra teigiamas, kelių šaltinių matuokliai N2600 tęsia funkcinį testą (6 veiksmas). Jei diodo poliškumo testas yra atvirkštinis, tada nusiųskite skaitmeninį IO signalą robotui, kad jis pasuktų įrenginį ir grįžtų prie 4 veiksmo. (Kai poliškumo testas yra atvirkštinis, įrenginį galima pasukti ir be sukimosi. Kadangi šaltinio matuoklis N2600 veikia keturiuose kvadrantuose įtampos ir srovės išvesties kryptis gali būti valdoma programine įranga, kad būtų atliktas bandymas, taupant įrenginį sukančio roboto veikimo laiką)
6. Kai diodo poliškumas yra teigiamas, šaltinio matuoklis N2600 atlieka diodo veikimo testą testo vykdymo programos nurodyta tvarka, priima kvalifikuotą sprendimą ir išsaugo kiekvieno bandymo duomenis.
7. Šaltinio matuoklis N2600 siunčia skaitmeninį IO signalą robotui rūšiuoti ir rūšiuoti, ir siunčia testo pabaigos (EOT) signalą robotui bokso operacijai ir išsaugo kiekvieno bokso produkto informacijos duomenis.
8. Palaukite kitos diodo padavimo bandymo partijos ir automatiškai pakartokite aukščiau nurodytus bandymo veiksmus.